Prueba de error por tiempo de establecimiento

[José_M._Vólquez_R.]

Este es un VI que pretende medir el error en las adquisicionesdebido al tiempo de establecimiento

Descripción

Este ejemplo implementa una prueba del error en las lecturas de voltaje debido altiempo de establecimiento de una tarjeta de adquisición de datos. Sí lafrecuencia de muestreo es lo suficientemente alta cómo para no permitir a la circuitería de adquisición “establecerse”,se obtendrán lecturas erróneas.

1. El error debido al tiempo deestablecimiento es medido en LSB´s. En el diagrama de bloques se incluye unaimagen con los resultados de probar este error en una tarjeta NI PCI-6255.
2. Para obtener información más técnicade esta aplicación refiérase al siguiente artículo:
3. http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/2825

Software de aplicación

LabVIEW 2010.

Driver Software

NI-DAQmx.

Tarjeta utilizada

NI PCI-6255.

Modo de operación

1.-Seleccione los canales que se utilizaran para hacer la prueba. De preferenciadeben ser contiguos. El voltaje en estos debe ser simétrico, es decir, en unose pondrán +0.5V (CHN0) y en otro -0.5V (CHN1).

2.-De acuerdo a la tarjeta utilizadaestablezca la resolución de su sistema, así como el rango. De preferencia elijael rango máximo.

3.- La frecuencia de muestreo es lavariable a mover en esta aplicación.

4.-Corra la aplicación. Entre losresultados que se obtendrán están 3 gráficas. VREF+ muestra las 100 muestrasadquiridas del CHN0, VREF- las del CHN1; mientras BOTH, la de ambas, adquiridasen un muestreo simultáneo.

Imágenes